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本申请实施例公开了一种测试方法、装置、电子设备以及可读存储介质,该方法包括:对于待测试用例中的每个测试用例,获取每个测试用例在设定的测试设备组中对应的各测试设备上的历史测试时长,其中,每个测试用例至少在该测试设备组的一个测试设备上进行过一次测试;基于各测试用例各自对应的历史测试时长,确定各测试用例的测试平均时长;根据各测试用例的测试平均时长,确定由该设定的测试设备组完成所有测试用例的一次测试所需的时长阈值;根据时长阈值和各测试用例的测试平均时长,确定各测试用例在该测试设备组中分配到的目标测试设备
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113743040 A
(43)申请公布日 2021.12.03
(21)申请号 202111040017.6
(22)申请日 2021.09.06
(71)申请人 海宁奕斯伟集成电路设计有限公司
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