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- 2023-07-02 发布于四川
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本发明公开了一种芯片翘曲变形量计算方法、装置、终端设备及介质,其中所述方法包括:获取摄像头模组的几何模型;对所述摄像头模组的几何模型进行翘曲变形量计算,得到所述摄像头模组中成像芯片的翘曲变形量。采用本发明,能准确、便捷地计算出摄像头模组中成像芯片的翘曲变形量。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113722959 A
(43)申请公布日 2021.11.30
(21)申请号 202111007236.4 G06F 119/08 (2020.01)
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