一种基于余数差特征值的光学欠采样多频频率计算方法.pdfVIP

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  • 2023-07-05 发布于四川
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一种基于余数差特征值的光学欠采样多频频率计算方法.pdf

本发明公开了余数差特征值的光学欠采样多频频率计算方法,通过研究待测频点余数差的特点,对不同频率下变频信号进行了有效分组,并进一步实现频率计算。本发明方法对不同大小的采样重频具有较强的普适性,对于实现野外宽带分布的多频电场的快速测量具有重要意义。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113804987 A (43)申请公布日 2021.12.17 (21)申请号 202110911158.4 (22)申请日 2021.08.09 (71)申请人 北京航空航天大学 地址

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