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- 2023-07-05 发布于四川
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一种可实现不同极性半导体激光器测试的装置与测试方法,属于半导体激光器封装测试技术领域,装置包括导向插座、探针插座、支撑底座;导向插座沿轴向设有导向孔,导向孔底部设有测试柱;探针插座贯穿设有金属化通孔,金属化通孔内设有球形伸缩探针,测试柱底部设有球形凹槽,球形凹槽与球形伸缩探针相互配合;支撑底座贯穿设有支撑底座插针,支撑底座上方伸出的支撑底座插针插入探针插座的金属化通孔中;导向插座通过定位销钉与探针插座连接。测试装置安装至测试机台后,可以通过导向插座的旋转完成导向插座内测试柱电极性的改变,从而实现
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113805024 A
(43)申请公布日
2021.12.17
(21)申请号 20201
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