一种颗粒物全光路校准的测量装置及方法.pdfVIP

  • 14
  • 0
  • 约6.84千字
  • 约 7页
  • 2023-07-05 发布于四川
  • 举报

一种颗粒物全光路校准的测量装置及方法.pdf

本发明公开了一种颗粒物全光路校准的测量装置及方法,该测量装置包括测量腔体和出光部件;测量腔体内设有光阱、光纤、凹面镜、窗口片、进气端和出气端;出光部件通过连接杆安装在设置窗口片一侧的测量腔体的外侧面;出光部件包括准直镜座、激光器和变焦部件;准直镜座上安装有准直透镜;激光器安装在变焦部件上;变焦部件与准直镜座活动连接,即准直透镜与激光器的距离可调整,实现了光束大小的调试。本发明设有变焦部件,通过调整变焦部件的位置,调整激光器和透镜的距离使得光束变大,进入量程校准状态,此时光束照射到进气端产生量校光

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113804597 A (43)申请公布日 2021.12.17 (21)申请号 202111157621.7 (22)申请日 2021.09.30 (71)申请人 徐州治鼎环境科技有限公司

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档