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测试半导体器件的方法、系统以及可读存储介质.pdfVIP

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  • 2023-07-05 发布于四川
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测试半导体器件的方法、系统以及可读存储介质.pdf

    一种用于测试半导体器件的方法、用于测试半导体器件的系统以及可读存储介质被揭露，所述方法包括：在一组测试中的一者中获得在半导体器件上测量的结果；将所述结果与在先前在所述一组测试中的一者或多者中测量的相应结果中确定的最大值及在先前在所述一组测试中的一者或多者中测量的相应结果中确定的最小值进行比较；基于第一结果与最大值及最小值之间的比较来判断是否更新最大值及最小值以计算差量值；将差量值与噪声阈值进行比较；基于差量值与噪声阈值之间的比较来判断是否更新定时器的值；确定定时器的值满足定时器阈值；以及确定半导

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113805027 A (43)申请公布日 2021.12.17 (21)申请号 202110569496.4 (22)申请日 2021.05.25 (30)优先权数据 16/884,68

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