原创力文档- 12
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- 2023-07-06 发布于四川
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本发明提供了一种紧缩场馈源偏焦量化值的确定方法及装置，其中方法包括：确定反射面的类型；根据确定的该类型，确定馈源相位中心未偏焦时，该馈源发射的电磁波所对应未偏焦路径的第一绝对相位；根据确定的该类型，确定馈源相位中心偏焦时，该馈源发射的电磁波所对应偏焦路径的第二绝对相位；将所述第一绝对相位与所述第二绝对相位的差值，确定为紧缩场馈源偏焦量化值。本方案，能够快速得到紧缩场馈源偏焦量化值，提高了计算时效性。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113834975 A
(43)申请公布日 2021.12.24
(21)申请号 202111114253.8
(22)申请日 2021.09.23
(71)申请人 北京环境特性研究所
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