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- 2023-07-06 发布于四川
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本申请实施例提供了一种处理方法，包括：获得待检测设备的处理图像，其中，所述处理图像为通过对所述待检测设备的初始图像进行第一处理得到的，所述第一处理至少包括根据与所述初始图像对应的缺陷参数对所述初始图像进行缩放处理；对所述处理图像进行第二处理，生成目标图像，以通过目标缺陷检测方式对所述目标图像进行分析，实现对所述待检测设备的缺陷检测。本申请实施例的处理方法，操作方便，能够根据缺陷参数方便的对初始图像进行缩放，获得合适的处理图像，从而提高算法的识别速度，同时还能避免降低算法的精度，再进一步对处理图像
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113838025 A
(43)申请公布日 2021.12.24
(21)申请号 202111106934.X G01N 21/88 (2006.01)
(22)申请日 2
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