半导体装置.pdfVIP

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  • 2023-07-07 发布于四川
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本发明提供一种半导体装置,其包括存储芯片及温度检测模块,所述温度检测模块用于检测所述存储芯片的温度,所述温度检测模块包括:温度检测单元,用于检测所述存储芯片的温度,并输出与所述温度对应的模拟信号;A/D转换模块,包括多个比较单元,所述比较单元包括输入端、参考端和输出端,所述输入端接收所述温度检测单元输出的模拟信号,所述输出端输出数字信号,多个所述比较单元参考端所接收的参考电压非均匀的增加。本发明优点是,利用温度检测模块检测存储芯片温度,避免存储芯片在低温下启动及运行,缩短写入时间,提高存储芯片写

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113870917 A (43)申请公布日 2021.12.31 (21)申请号 202010612720.9 (22)申请日 2020.06.30 (71)申请人 长鑫存储技术有限公司

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