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- 2023-07-07 发布于四川
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本申请公开了一种系统级芯片的验证平台及验证方法，该方法包括：通用验证方法学测试实例生成约束的随机参数和随机控制并将其存储于总线功能模型的存储区域；软件测试实例通过中央处理器单元从所述存储区域读取所述随机参数和随机控制配置系统级芯片的测试；将所述软件测试实例的执行状态信息存储于所述存储区域；所述通用验证方法学测试实例读取所述执行状态信息，根据所述执行状态信息调整生成随机参数和随机控制的约束条件以排除已测场景，并将所述执行状态信息转换成覆盖率数据用于覆盖率分析。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113868987 A
(43)申请公布日 2021.12.31
(21)申请号 202010621116.2
(22)申请日 2020.06.30
(71)申请人 澜至电子科技（成都）有限公司
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