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- 2023-07-07 发布于四川
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本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片双积分球测试装置及测试方法。一种芯片双积分球测试装置，包括：转盘，具有相对设置的至少两个测试工位;驱动结构，设于所述转盘的一侧，包括支架、与支架连接的驱动件和与所述支架滑动连接的滑轨，所述支架上并排设有两个安装工位;第一测试结构和第二测试结构，分设于两个所述安装工位上，在所述驱动件的作用下，所述第一测试结构或第二测试结构与两个安装工位之间的测试工位对准。本发明提供了一种可以同时测量不同功率和波长的芯片，测试效率较高的芯片双积分球测试装置及测试方法。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113848464 B
(45)授权公告日 2022.02.15
(21)申请号 202111408116.5 (56)对比文件
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