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- 2023-07-07 发布于四川
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本发明公开了一种微型激光芯片老化测试系统,涉及微型激光器测试领域,其包括上电模块、温控模块和机架模块,所述上电模块、温控模块均安装于所述机架模块上,所述温控模块包括设置于机架模块上的风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱,老化子箱内设置有微型激光芯片,所述风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱相互电连接;所述温控模块用于控制各个老化子箱的温度;所述上电模块用于为各个老化子箱中的微型激光芯片供电。整个系统能够用于对不同规格型号的微型激光芯片的老化测试,且能够在多个通道集中进行老化测试,
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113866585 A
(43)申请公布日
2021.12.31
(21)申请号 20201
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