设备测试方法和装置、存储介质及电子装置.pdfVIP

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  • 2023-07-07 发布于四川
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设备测试方法和装置、存储介质及电子装置.pdf

本发明实施例提供了一种设备测试方法和装置、存储介质及电子装置,该方法包括:获取测试用例,其中,所述测试用例为用于测试所述设备的计算机程序;根据所述测试用例的属性标签,将所述测试用例分成不同的组别,得到多组测试用例;为所述多组测试用例中的每一组所述测试用例分别分配一个测试沙盒;使用所述多组测试用例在各自分配的所述测试沙盒中对所述设备分别进行测试。通过本发明,解决了设备测试的效率低的问题,进而达到了提高设备测试效率的效果。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113868112 A (43)申请公布日 2021.12.31 (21)申请号 202010615380.5 (22)申请日 2020.06.30 (71)申请人 中兴通讯股份有限公司

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