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2023-07-08 发布于四川
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一种光电探测芯片的测试系统及方法.pdf

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本发明公开一种光电探测芯片的测试系统及方法。系统包括光源组件、电源组件、光纤组件、转换组件，耦合组件和测试组件，光源组件用于提供测试光信号；电源组件为待测光电探测芯片提供偏置电压；光纤组件用于接收测试光信号，将测试光信号向待测光电探测芯片传输；转换组件用于接收待测光电探测芯片输出的光电流信号，将光电流信号转换成电压信号，将电压信号提供给耦合组件；耦合组件用于基于转换组件提供的所述电压信号控制光纤组件移动，以使待测光电探测芯片耦合到最多的测试光信号；所述测试组件用于在待测光电探测芯片耦合到最多的测

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113865827 A (43)申请公布日 2021.12.31 (21)申请号 202111043119.3 (22)申请日 2021.09.07 (71)申请人武汉光谷信息光电子创新中心有限

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