划片机接触测高方法.pdfVIP

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  • 2023-07-08 发布于四川
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本发明的实施例提供了一种划片机接触测高方法,涉及划片机技术领域。划片机接触测高方法包括:S1:计算出刀片与视觉模块的相对位置差值;S2:利用视觉模块在工作盘的金属表面选取测高范围;S3:利用相对位置差值,将刀片移至测高范围的正上方;S4:控制刀片在测高范围内测高。划片机接触测高方法利用刀片与视觉模块的相对位置关系固定,采用视觉模块观察工作盘的表面、并在其金属表面选取到测高范围,可直接计算出实际测高时各运动轴的坐标值范围,进而达到刀片会在选取的测高范围内进行自动测高的目的,能够便捷、高效、精准地在

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116394135 A (43)申请公布日 2023.07.07 (21)申请号 202310671684.7 (22)申请日 2023.06.08 (71)申请人 沈阳和研科技股份有限公司 地址

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