x射线多晶衍射测试原理及样品制备要求课件.pptVIP

x射线多晶衍射测试原理及样品制备要求分析测试中心 x射线衍射方法应用范围n 检测对象和内容：物相定性定量分析，材料合成中的物相确定，药物制备中的晶型测定等；材料结构测定，晶胞参数测定；纳米材料晶粒大小测定；半导体薄膜及多孔材料（粉末、平整的固体平面）的小角衍射(2θ在0.6°-6°)。n 主要应用领域：多孔材料、半导体材料、矿物、文物、电池填充材料、药物等结晶物质均可用多晶衍射（XRD）作材料性能及材料结构表征工作。 x射线多晶研究方法x射线多晶衍射原理xn 一束波长λ的平行 射线照射到晶面间距为d的一组晶面上，当入射角θ满足布拉格方程时，即可发生衍射。n 单晶体在衍射方向上可得到一个个分立的