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本发明公开了一种基于纹理特征分析的坑槽识别方法、装置、设备及介质,所述方法包括:对坑槽图像进行基于HSV的背景识别,得到背景掩膜图像;对背景掩膜图像进行超像素划分;获取超像素的四个方向的灰度共生矩阵,计算灰度共生矩阵的能量和熵,作为超像素的纹理特征,通过纹理特征进行超像素的聚类;建立标记图像,通过形态学方法,选取疑似坑槽区域,去除伪坑槽区域,实现坑槽识别。本发明解决了目前坑槽识别时存在的轮廓不够准确、定位精度不高的问题,在坑槽识别的过程中,将坑槽图像进行了基于HSV的背景识别,有效去除了复杂背景
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116434085 A
(43)申请公布日 2023.07.14
(21)申请号 202310267566.X (51)Int.Cl .
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