存储器及其测试方法、存储器测试系统.pdfVIP

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2023-07-15 发布于四川
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存储器及其测试方法、存储器测试系统.pdf

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本公开实施例提供一种存储器及其测试方法、存储器测试系统，其中，存储器的测试方法：将冗余使能设置为有效，对正常存储阵列中所有存储单元写入第一数据；写入第一数据后，将冗余使能设置为无效，在存储器的冗余存储阵列中的第一冗余单元中写入第二数据，第二数据与第一数据不同；第一冗余单元用于修复正常存储阵列中的第一故障单元；写入第二数据后，将冗余使能设置为有效，对正常存储阵列的所有存储单元中的数据进行读取；其中，在冗余使能有效时，访问故障单元自动切换到访问与故障单元对应的冗余单元；在冗余使能无效时，故障单元和冗

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116434823 A (43)申请公布日 2023.07.14 (21)申请号 202310493697.X (22)申请日 2023.04.28 (71)申请人长鑫存储技术有限公司地址 23