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本申请提供一种配件在位测试方法及相关设备。该方法应用于测试设备,包括:获取配件测试信息,并根据配件测试信息生成控制指令,配件测试信息用于指示待测试设备中各个端口对应的待测试配件;向待测试设备发送控制指令,控制指令用于指示待测试设备启用各个端口对应的待测试配件,停用各个端口对应的非待测试配件;获取待测试设备检测到的在位信息;在位信息用于指示待测试设备检测到的启用中的配件;根据在位信息与配件测试信息,确定配件测试信息对应的测试结果。该方法通过遍历测试待测试设备,可以确定待测试设备启用不同排列组合的配
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116430144 A
(43)申请公布日 2023.07.14
(21)申请号 202310379856.3
(22)申请日 2023.03.31
(71)申请人 深圳市正浩创新科技股份有限公司
地
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