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本公开实施例公开了一种半导体结构及其制备方法、半导体器件。半导体结构包括:衬底;至少两个隔离结构,至少部分隔离结构位于衬底中;有源区,位于相邻的两个隔离结构之间且位于衬底中,包括:沟道;栅极,包括:第一部分和第二部分;其中,第一部分位于沟道之上;第二部分位于相邻的两个隔离结构中的至少一个与沟道之间;栅介质层,位于栅极和沟道之间。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116435324 A
(43)申请公布日 2023.07.14
(21)申请号 202310681725.0
(22)申请日 2023.06.09
(71)申请人 湖北江城芯片中试服务有限公司
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