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电子元器件及物料来料检验标准 文件编号：工作文件来料检验标准版次生效日期页次1/10 检验方法：在距40w荧光灯1m-1.2m光线内，眼睛距物20-30cm，视物约3-5秒。 缺陷判定No.物料名称检验项目检验依据：MIL-STD-105E-IIMA：0.65MI：1.5 品质要求MAMI - SMT件长/宽/高允许公差范围为±0.2mm，DIP件长/直径（圆体）/脚径允许公差范围为±0.25mm。 - 本体应无破损或严重体污现象，插脚端不允许有严重氧化、断裂现象，插脚轻微氧化不影响其焊接。 - 包装方式为袋装或盘装，外包装须贴有明显物品标示且应与实物相符，SMD件排列方向须一致，盘装物料不