基于斜入射光反射差技术无标记高通量探测生物芯片的开题报告.docxVIP

基于斜入射光反射差技术无标记高通量探测生物芯片的开题报告 一、选题背景及意义 随着现代生物技术的不断发展，生物芯片已成为诊断、治疗、生物学研究中不可或缺的一种工具。目前，大部分生物芯片仍需使用标记化探针来实现样品中特定生物分子的检测，但标记物会对分子的活性和结构造成影响，且标记反应的灵敏度和特异性不易控制，因此出现了一种无标记探测的技术，即直接探测分子与生物芯片之间的相互作用。这种技术具有无标记、快速、高灵敏度、高特异性等特点，对于筛选新药物、诊断疾病等方面具有广泛的应用前景。 目前，斜入射光反射差技术（OBIRCH）已成为生物芯片无标记探测的一种新兴技术。OBIRCH技术利用入射光与芯片表面反射的光之间的相位差异来探测样品中生物分子与芯片表面的相互作用。由于其不依赖荧光和其他标记，因此可以避免标记化过程中可能发生的一些问题，同时能够实现高通量检测。 二、研究内容及目标 本文旨在开发一种基于OBIRCH技术的无标记高通量生物芯片探测系统，并以该系统对DNA的探测为例进行实验验证。 1. 系统构建 （1）OBIRCH探测系统，包括光学系统和控制系统，用于获取斜入射的反射光强度。 （2）生物芯片，用于固定检测分子，芯片表面应具有高反射率的金属或介质膜。 2. 实验设计 （1）通过OBIRCH技术对DNA的相互结合进行实时监测。先在生物芯片表面固定适当的DNA分子，然后将待测DNA与之混合，通过观察探测系统输出的信号变化来判断待测DNA与芯片表面的结合情况。 （2）通过实验比较标记化和无标记化探测DNA的灵敏度、特异性、操作简便度等指标，以评估OBIRCH技术的优劣。 三、预期成果 （1）建立基于OBIRCH技术的无标记高通量生物芯片探测系统。 （2）实现DNA无标记探测，评估OBIRCH技术的性能。 （3）为无标记高通量生物芯片探测技术的发展提供参考。 四、研究方案及进度安排 1. 选择合适的生物芯片材料和DNA分子，进行芯片表面修饰和稳定性等实验，预计涉及1个月时间。 2. 建立OBIRCH探测系统，设计并制作控制系统、光学系统及其相关元件，预计涉及2个月时间。 3. 进行DNA无标记探测实验，记录反射强度变化数据并进行分析，预计涉及3个月时间。 4. 比较OBIRCH技术和标记化技术的探测灵敏度、特异性、操作简便度等指标，评估OBIRCH技术的性能，预计涉及1个月时间。 5. 撰写论文并进行答辩，预计涉及1个月时间。 预计完成时间为6个月，其中，芯片表面修饰和稳定性实验可能因实验条件不受控等因素造成延误。