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本实用新型公开了一种用于半导体外延片研磨的陶瓷托盘,主要包括基座和托盘,基座顶部与托盘底部连接,且基座直径大于托盘直径,并且基座顶部还设置有至少一对结构完全一致的紧固机构,紧固机构顶部至基座底部之间的距离大于托盘顶部至所述基座底部之间的距离,且一对紧固机构分别设置在托盘直径的两侧,并且紧固机构至托盘边缘设置有间隙,本实用新型结构简单,使用安全便捷,能够有效提高外延片衬底减薄研磨工艺的正品率,同时还能应对不同直径的半导体的减薄研磨,并且确保在研磨更加的稳定可靠。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 209887354 U
(45)授权公告日
2020.01.03
(21)申请号 20192
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