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2023-07-26 发布于四川
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芯片测试设备及方法.pdf

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本发明提供了一种芯片测试设备及方法，所述芯片测试设备包括：芯片测试板，及处理器和用于装配被测芯片的芯片固定座，且装配到所述芯片固定座的被测芯片经由所述芯片固定座与所述处理器电连接；第一固定组件；第二固定组件，设于所述预设位置上方并包括固定板、第一伸缩装置、第二伸缩装置、第一加热装置、第二加热装置以及驱动装置；控制电路板，用于控制驱动装置驱动第一伸缩装置将第一压板下压至所述处理器的上表面和驱动所述第二伸缩装置将第二压板下压至被测芯片的上表面，以及控制第一加热装置和第二加热装置加热到第一预设温度。本

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116482515 A (43)申请公布日 2023.07.25 (21)申请号 202310465442.2 (22)申请日 2023.04.24 (66)本国优先权数据 202310246020.6