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- 2023-07-29 发布于四川
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本发明属于一种基于透射‑吸收法测量能谱的装置及其解谱方法，为了解决现有技术中采用叠片式滤片布置进行能谱测量时，能谱测量装置不易得到准确的吸收片能量沉积与入射光子能量的关系；现有的解谱方法存在若干问题；迭代法、微扰法、期望最大值法要求的初始能谱的准确性将极大影响求解效果；奇异值分解法在测量误差较大、求解能段较多时无法给出符合实际情况的解。本发明提供一种测量高能短脉宽X射线能谱的装置及其解谱方法，采用阵列式滤片‑吸收片布置方式，使得吸收片能量沉积与入射光子能量之间的关系易于计算；另外，解谱方法中，给
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116500667 A
(43)申请公布日 2023.07.28
(21)申请号 202310467439.4
(22)申请日 2023.04.26
(71)申请人 西安交通大学
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