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一种基于二分法的芯片测试档位确定系统和方法.pdfVIP

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  • 2023-07-29 发布于四川
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一种基于二分法的芯片测试档位确定系统和方法.pdf

    本发明公开了一种基于二分法的芯片测试档位确定系统和方法，其中系统包括：数据获取模块，用于使用测试机获取多个测试芯片的档位数据与对应的电流数据；数据排序模块，用于将所述档位数据按照电流数据的大小排序；二分法查找模块，用于将所述档位数据规整至同一数组中；将数组中的数据通过二分法进行查找，直至找到所述多个测试芯片的最佳电流档位。通过本发明，针对非线性序列的芯片测试档位及电流数据，重新排序使所述电流数据其变成单调递增或递减的序列，再使用二分法进行档位数据查找，快速找到最佳的测试档位，进而减少测试时间，缩

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116500419 A (43)申请公布日 2023.07.28 (21)申请号 202310452661.7 (22)申请日 2023.04.25 (71)申请人 普冉半导体 （上海）股份有限公司

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