一种芯片的性能模拟验证方法及装置.pdfVIP

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2023-07-29 发布于四川
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一种芯片的性能模拟验证方法及装置.pdf

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本申请公开了一种芯片的性能模拟验证方法，所述方法包括：模拟驱动所述待检测的元器件按所述模拟工作条件的第一综合参数的配置进行第一运作，若所述元器件的运作性能不满足目标运作性能，则生成第二综合参数，模拟驱动所述待检测的元器件按所述模拟工作条件的第二综合参数配置进行第一运作，基于所述元器件的属性信息和第一运作信息，为所述芯片设置模拟工作条件的第一匹配参数；模拟驱动所述芯片按所述模拟工作条件的第一匹配参数的配置进行第二运作，检测所述芯片的匹配性能，若所述匹配性能不满足目标匹配性能，则基于所述第一匹配性能

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 110991136 A (43)申请公布日 2020.04.10 (21)申请号 20191