JBT 5537-2006半导体压力传感器.pdf

ICS 17.100N11备案号：198472007中华人民共和国机械行业标准JB/T 5537—2006代替JB/T 5537—1991半导体压力传感器Semiconductor pressure sensors2006-12-31发布2007-07-01实施中华人民共和国国家发展和改革委员会发布 JB/T 5537--2006目次前言1范围。2规范性引用文件基本参数3要求...4 .5 试验方法。6检验规则7标志、包装、运输和贮存.9附录A（规范性附录）传感器性能指标的计算方法..11表1准确度等级及性能指标表2热零点漂移和热满量程输出漂移表3 检验项目。.8表 A.1校准循环次数与包含因子 JB/T5537-20065.18.7湿热试验4.15.7的规定。5.18.8长赛按GB/T2423.16中规定的试验方法进行试验，结果应符合本标准4.15.8的规定。5.18.9 盐雾5.19疲劳筹命果应符合本标准4.16的规定。6 检验规则6.1出厂检验每个传感器必须经制造厂技术检验部门按照规定的检验项目进行检验，检验合格后方可出厂。出厂检验的项目，检验顺序按表3规定进行。表3检验项目出厂检验型式检验检验项目试验方法序号检验项目要求章条号章条号项目项目不合格类型外观4.25.4c1外形及安装尺寸4.35.5.c.2质量c34.175.6输人阻抗4.4c.45.75输出阻抗4.55.8c绝缘电阻4.65.9B65.10B7绝缘强度4.78零点输出1.27c9满量程输出1.3c非线性4.8.3B105.11.41.5B重复性1.6B1213准确度1.7B14过载4.95.12B15零点时漂4.105.13BB16热零点漂移4.115.1417热满量程输出漂移4.125.15B18热零点滞后4.135.16B19高温试验8.1B一20低温试验8.2B一21温度变化8.3B22振动8.4B23冲击8.5B24加速度8.6B25湿热8.7B8 JB/T 5537--2006表3 (续)试验方法出厂检验型式检验检验项目序号检验项目要求章条号章条号项目项目不合格类型26长霉8.8B27盐雾8.9B28疲劳寿命4.165.19B29零点长期稳定性4.145.17注1：“}”为检验项目；“一”为不检验项目。验结果。6.2型式检验6.2.1型式检验原则传感器具备下列情况之一时，应进行型式试验。新产品或老产品转厂生产的试验定型鉴定；-正式生产后，如结构、材料、工艺等有重大改变；-正常生产时，定期或积累一定产量后，应周期性地进行检验，检验周期一般应为两年；-产品停产一年以上；恢复生产时；-同类型产品进行比对时；一国家质量监督机构提出进行型式试验的要求时。6.2.2型式检验项目型式试验项目及检验顺序按表3的规定进行，根据传感器的不同用途可适当增减检验项目。6.2.3抽样、判定规定型式检验的抽样按GB/T2829相应条款执行，以不合格品数为判断依据。样本量n=10，采用判别水平 I的一次性抽样方案，采用不合格质量水平 RQL=20，判定数组 A=1、Re一2。对于 B类不合格，采用不合格质量水平 RQL=20，判定数组 Ac一1、R一2；对于 C类不合格，采用不合格质量水平 RQL二40，判定数组 Ac二3、Re=4。每只样品有一个B类不合格、三个C类不合格，结果判定该样品合格。10只样品中有一只不合格，判定该批产品合格；有两只或两只以上不合格，判定该批产品不合格。判定数组样本共10只，由质量管理部门按随机的方式抽取，生产部门提供的样品基数应大于2倍抽样样品数量。6.2.4对不合格判定的处理检验结果被判定为批不合格时，质检管理部门应组织相关人员分析不合格原因，对相应的同批产品提出处理意见，并敦促生产部门采取改进措施。改进后生产的首批产品应重新进行型式试验。检验项目为上一次型式检验有不合格品的项目，抽样和判别按7.2.3的规定进行。7标志、包装、运输和贮存7.1产品标志传感器应有以下标志：a）电源输人线和输出线及极性的标志。b）差压传感器的高压端和低压端接嘴应有永久性标志。c）型号标记应包含下列内容：1）型号;2）出厂编号; JB/T 5537--20063）量程；4）生产日期；5）生产单位名称或商标。7.2↑包装7.2.1随机文件a）产品合格证书;b）产品使用说明书；c）装箱单;d）随机备用附件清单；e）安装图;f）其他相关文件资料。7.2.2传感器包装传感器包装应符合GB/T15464的规定。7.3运输和贮存传感器运输和贮存应符合JB/T9329的规定。10 JB/T 5537—2006附录A（规范性附录）传感器性能指标的计算方法A.1实际工作特性在传感器的整个测量范围内取m个校准点，校准点通常应包括零点和测量上限点，般取m一（5～11）点，进行