MH 3009-2004航空器无损检测 射线检验.pdf

ICS 19. 100H 26MH中华人民共和国民用航空行业标准MH/T 3009—2004代替 MH/T 3002.3—1997航空器无损检测射线检验Nondestructive testing for aircraftRadiographic testing2004-05-20发布2004-10-01实施中国民用航空总局发布 MH/T 3009—2004目次前言引言范围N规范性引用文件3术语和定义般要求4. 1人员资格4, 2厂房设备4. 3材料4. 4设备4. 5像质计详细要求检验程序5. 2验收要求5. 3表面准备5. 4射线底片识别标记检验和透照范5. 6险验工序非胶片技像质计的放5. 15滤波5. 16多胶片暗盒喂光5. 17评定像质计区域5. 18不必使用像质计的条件5. 19焊接件5. 20对比度5. 21背散射5. 22射线源到胶片距离5. 23识别标记5, 24定位标记5. 25裂纹检查5. 26质量保证 MH/T 3009—2004表3射线检验的质量等级像质计标号射线检验质量等级最大像质计厚度最小孔径等效像质计灵敏度%00 1-IT-IT0. 7 01-2T12T1. 0-2-ITIT1. 4 22-2T2T2. 02-4TN4T2. 8以材料厚度的百分数表示。b以像质计厚度(T)的借数表示。等效像质计灵敏度是指在相同射线检验条件下，能清楚观察到2T孔时以试样厚度百分数表示的像质计厚度。5.12像质计选择像质计的厚度应以不大于被透照工件标称厚度为基础。在双壁双影法中，应根据部件的双壁厚度选择像质计。在双壁单影法中，应根据部件单壁的厚度选择像质计。像质计厚度不应大于被透照工件的厚度。对于焊接件，像质计应根据附录B选择。5.13像质计的放置除了许多相同部件同时瞩光在一张胶片上的情况外，每个射线检验的部件在噪光期间都应放置像质计。在这种情况下，应将像质计放置在辐射锥体外侧、部件的辐射源侧的检测表面上或在喂光位置最远（即距射线束中心线最远处）放置一个像质计。对于不规则物件的检验，像质计应放置在距离胶片最远的部件区域上。由于在像质计正下方的区域不能作出验收或拒收的判断，因此像质计应放置在邻近检验区域的位置。当不能将像质计放置在工件上时，可采用5.13.1或5.13.2中的方法。5.13.1垫片、垫块或类似截面的像质计的放置当像质计不能放置在被透照零件表面时，可放在射线源一侧与被透照零件同一材料组或与被透照材料相似（见5.5.2）的垫片、垫块或类似截面的表面上靠射线束锥形区的边缘。垫片、垫块或类似截面应超过像质计的尺寸，以保证在射线照片上至少可看到像质计的三个侧边。若需要，垫片应放置在低吸收率的材料（如聚苯乙烯塑料或与其相当的材料）上，确保像质计不会比零件表面或检测区域（靠近射线源处）到股片的距离更近。5.13.2像质计置于胶片上对于双壁零件如管道或空心铸件，在零件靠近射线源一侧不能放置像质计时，可按5.13.2.1和5.13.2.2的规定将像质计放置在胶片上，并应在邻近像质计处放置字母“F5.13.2. 1当进行双壁双影检验时，将像质计放置于胶片上的方法应在一个类似截面上进行透照验证。其方法是将像质计放置在靠近射线源一侧的类似截面上，然后再选择厚度范围为要求厚度至1/4要求厚度的一组线性像质计或一组孔型像质计放置于靠近胶片一侧进行噪光。如果靠近射线源一侧的像质计能够达到所要求的透照质量等级，并且置于胶片一侧最小直径或最薄孔型像质计的图像在底片上可见，则可使用这种放置方法进行透照。5. 13. 2. 2当进行双壁单影检验时，，将像质计放置于胶片一侧的方法应在一个类似截面上进行透照验证。其方法是将个要求使用的像质计放置于零件内部，然后按5.13.2.1的方法在胶片一侧效置一组像质计。如果零件内部的像质计能够达到所要求的透照质量等级，并且置于胶片一侧最小直径或最薄孔型像质计的图像在底片上可见，则可使用这种放置方法进行透照。5. 13.3像质计的整定性噪光6 MH/T 3009—20045. 13.3.1如果在书面工艺文件中已包括并经具有射线检验3级资格证书的人员批准，单次使用适用的像质计曝光可用于鉴定整个检验过程。5.13.3. 2当部件需要多次赚光而不能在部件上连续放置像质计时，在检验过程申可作单次的像质计爆光整定。只要不改变射线检验工艺，后续的噪光可在无像质计的情况下进行。在下述参数变化时应重新进行鉴定性曝光：a)射线能量；滕光量；e)射线源与胶片距离；d)增感屏、准直器、遮蔽或滤光板；e)胶片类型；f）胶片处理参数。5.13.3.3后续赚光应经过连续法或其他方法的鉴定曝光确认。鉴定噪光的副本应提交给所有具有复审权的人员。5.13.4重新透照因胶片的质量或不适当的探操作导致对解释结果或底片清晰度产生疑问时，应重