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本实用新型公开了一种IC测试座，包括PCB转接板1、定位腔体2、底座6、压块8、手扣7、上盖9、螺柱10和旋钮11，其中PCB转接板1、定位腔体2和基座从下到上叠加固定，所述定位腔体2中间设有用于固定半导体芯片5的固定槽21，所述固定槽21内从下到上依次设有导电胶3和FPC转接片4，所述底座6上设有通孔61，所述通孔61位置与固定槽21位置对应，所述底座6两侧分别转动固定有上盖9和手扣7，所述上盖9通过手扣7与底座6固定，所述螺柱10纵向贯穿上盖9，螺柱10与上盖9螺纹连接，所述螺柱10与压块8
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 209946224 U
(45)授权公告日
2020.01.14
(21)申请号 20192
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