JBT 8239.2-1999衍射光栅 技术条件.pdf

ICS 17.180.30N 33JB中华人民共和国机械行业标准JB/T 8239.1 ~ 8239.2—1999衍射光栅Diffraction grating1999 - 08 - 06 发布2000 - 01 - 01 实施国家机械工业局发布 JB/T 8239.1 ~ 8239.2—1999目录JB/T 8239. 1--1999衍射光栅基本参数·(1)JB/T 8239.2—1999衍射光栅技术条件(11) JB/T 8239. 1-1999表6 (完)mm有效刻划尺寸毛坏尺寸中心厚度宽直径度长507145 9040456040 80te15 ~ 1040507130te45 306325306040 252550 10 ~ 530202020 4015注：毛还尺寸直径采用CB/T 2822 R.40系列。3凹面光栅曲率半径按GB/T3158选用。5.310 JB/T 8239.2—1999前言本标准是对 JB/T8239.2—-95《衍射光栅技术条件》的修订。修订时，对原标准作了编辑性修改，主要技术内容没有变化。本标准自实施之日起,代替 JB/T 8239.2—95。本标准由全国光学和光学仪器标准化技术委员会提出并归口。本标准负责起草单位：上海光学仪器研究所。11 中华人民共和国机械行业标准衍射光栅JB/T 8239.2--1999技术条件代替 JB/T 8239.2-95Specification for diffraction grating范围本标准规定了衍射光栅的技术指标名称和代号、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。本标准适用于 JB/T 8239.1规定的反射式衔射光栅。本标准中所述光谱均指一级光谱。引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T 1185—1989光学零件表面疵病GB/T 2828—1987逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查）GB/T 2829---1987周期捡查计数抽样程序及抽样表（适用于生产过程稳定性的检查）GB/T 15464—1995仪器仪表包装通用技术条件JB/T 8239.1—1999衍射光栅基本参数JB/T 9329--1999仪器仪表运输、运输贮存基本环境条件及试验方法。3技术指标名称和代号3.1衔射光栅技术指标名称和代号按表1规定。表1技术指标名称代号衍射波阵面偏差实际分辨率与理论分辨率比值P.最大相对衍射效率E波长范围两端处相对衍射效率与最大相对衍射效率比值p.鬼线最大相对强度R:杂光相对强度74.技术要求4.1衍射波阵面偏差（△)等级要求按表2规定。表 2等级0123≤/10A/6≤α/2注：^为一一级光谱的峰值波长。国家机械工业局 1999-08-06批准2000- 01- 01实施12 IB/T 8239.219994.2实际分辨率与理论分辨率比值(P,)等级要求按表3规定。表 3等级011123P%≥908060 504.3最大相对衍射效率(E)等级要求按表4规定。表4级0123490≥756045≥ 304.4波长范围两端处相对衍射效率与最大相对衍射效率之比值（P。）等级要求按表5规定。表501234p%50w40≥30≥ 20≥104.5鬼线最大相对强度（R，）等级要求按表6规定。表6等 级0123R≤10-6A10-s10-+N10-34.6杂光相对强度（)等级要求按表7规定。表7等8A10-7M10-6N10-5W10-4注:n是距主线± 5nm处的杂光与主线强度的相对比值。4.7衍射光栅有效刻划面表面应清洁，无指纹、霉点、水迹，无明显油斑。4.8衍射光栅各棱边应平整，毛坏与膜层结合情况应良好。4.9衍射光栅刻划毛坏的宽度和长度偏差按du规定，厚度偏差均为±0.2mm。4.10矩形的衍射光栅槽线方向于光栅毛坏边缘，倾斜不超过1mm。4.11衍射光栅有效刻划面表面疵病质量要求按 CB/T 1185的有关规定。阴影按表 8规定。表8阴影质量要求效刻划面积mm轻微阴影总面积应小于光栅有效面积 100 × 1001/4 60 × 60 1/6 30 × 30 8/14.12衍射光栅在包装运输条件下，应符合JB/T 9329的规定。其中：a）高温:选用+55℃;13 B/T 8239.2-1999b） 低温:选用40℃;c）跌落：选用自由跌落高度 250mmlo5 试验方法5.1衍射波阵面偏差(△)(4.1)5.1.1 试验工具仪器准确度不低于^。/20的于涉仪。5.1.2 试验和计算方法被测衍射光栅放于泰曼干涉仪内用波长为入。单色光测得衍射光栅的干涉条纹最大变