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本实用新型公开了一种芯片测试同轴插座防脱落结构，涉及芯片测试同轴插座技术领域，为解决现有芯片测试同轴插座在打孔后，由于打孔产生的挤压力和震动力，里面的塑料结构和金属孔结构容易出现脱落分离的现象，导致打孔后固定不稳定的问题。所述芯片测试同轴插座主体的中心处设置有安装腔，所述安装腔的内部设置有测试座，所述测试座的中心处设置有一体成型的测试腔，所述测试腔的中心处设置有芯片摆放区域；还包括：螺栓孔，其设置在所述芯片测试同轴插座主体的拐角处，且螺栓孔贯穿芯片测试同轴插座主体；金属孔座，其设置在螺栓孔的内部
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 219456390 U
(45)授权公告日 2023.08.01
(21)申请号 202223520177.3
(22)申请日 2022.12.28
(73)专利权人 蓝泽半导体科技 （芜湖）有限公司
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