YS 483-2005铜及铜合金分析方法　X射线荧光光谱法.pdf

ICS 77. 120. 30YSH 13中华人民共和国有色金属行业标准YS/T 483-2005铜及铜合金分析方法X射线荧光光谱法（波长色散型）Methods for analysis of copper and copper alloys-X-Ray fluorescence spectrometric(wavelength dispersive)2005-05-18 发布2005-12-01.实施国家发展和改革委员会发布数码防伪 YS/T 483—2005前言本标准为首次制定。本标准采用 X射线荧光光谱法测定铜及铜合金中 Cu、Ni、Zn、Al、Fe、Sn、Pb、Mn、Si、Cr、As、P、金牌号的化学成分，及ISO、ASTM、JIS、BS等标准中的数百个合金牌号化学成分的分析。本标准附录A为资料性附录。本标准由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口。本标准由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本标准由洛阳铜加工集团有限责任公司起草，本标准由长沙铜铝材有限公司、沈阳有色金属加工厂参加起草。本标准主要起草人：胡晓春、原怀保、王越奇、吴宪智、赵燕杰、梅恒星、张敬华、杨丽娟、孟惠娟、李红。本标准主要验证人：李宏斌、李雅民、周建平。 YS/T 483—2005铜及铜合金分析方法X射线荧光光谱法（波长色散型）1范围本标准规定了铜及铜合金中合金元素及主要杂质元素的分析方法。本标准适用于X射线荧光光谱法分析铜及铜合金中合金元素及主要杂质元素。各元素的测定范围见表1。表 1元素测定范围/%元素测定范围/%no40. 00~ 98, 00Mn0. 010~15. 00IN0. 010~~35. 00IS0. 010~6. 00Zn0. 010~~45. 00Cr0. 010 ~~ 2. 00A1.0. 010~15. 00As0.010~0.50Fe0.010~10.00P0. 010~~1. 00Sn0.010~~15.00Mg0. 010-1. 00Pb0. 010 ~10. 00Ag0. 010--1. 002规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标推的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标推。GB/T 8170数值修约规则3方法原理由大功率X射线管发射的一次X射线照射已制好的试样平面使元素激发，产生具有被测元素特征的二次X射线（即荧光X射线），该混合光经分光晶体分光色散，对应的单色光由检测器接收，由计数器等部件记录其强度，根据标准物质（标准样品）制作的工作曲线测出试样中各待测元素的质量百分数。4仪器结果。其技术参数应满足或优于表2（仪器条件例）。常见元素分析晶体及分析线见附录A。1 YS/T 483—2005表 23kW铍窗管,Rh靶，端窗X射线发生器最大功率：3kW(50kV,100mA)晶体LiF,PET,NaCl, TAP,GeNe, Ar,Kr-exatron探测器Ne, Ar, Kr-multitron闪烁计数器(SC)5辅助设备、材料5.1辅助设备：能满足试样加工要求的车床或铣床。5.2标准物质（标准样品）：建立分析曲线用的标准物质（标准样品)应采用国家级或公认的权威机构研制的标准物质。原则上标准物质（标准样品）应是与分析试样的化学组成及冶金铸造过程基本一致，并能满足定量分析元素的范围：具有适当质量分数间隔（梯度）的3个以上的标准物质（标准样品）作为一个系列。5.3再校准样：用来校正工作曲线漂移的样品。可以是制作工作曲线的标样，也可以是再校准样。5.4控制样：与分析试样的组成及铸造过程一致的化学成分已知的均匀样品。以确保分析结果准确、仪器状态受控。6试样及制备6.1试样尺寸厚度不小于0.2mm，直径在25mm～50 mm之间（一般参照试样容器的尺寸）。6.2取样分析用的试样应均匀、无气孔、无夹渣、无裂纹，具有代表性。样面光洁平整、无氧化。样品可以从熔体中取，也可以从铸锭或加工件上取。从熔融状态取样时，用预热过的铸铁模或钢模浇铸成型。对分析易挥发的元素，应采用埚直接从熔体中取样；从铸锭或加工件上取样时，应从具有代表性的部位取样。6.3试样加工试样分析面用车床或铣床加工成光洁的平面。因样面粗糙度对结果有一定的影响，故待测试样应与标样、控制样的加工方式、粗糙度尽可能一致。7环境7.1仪器应放置在无电磁干扰、无震动、无气体腐蚀的场所。温度、湿度的控制按仪器要求配置。一般温差在 8 h之内应不超过±2℃,湿度75%。7.2仪器室应具备稳定净化的三相380V和单相220V电源，为确保分析数据不被意外破坏，应为计算机配备UPS电源。8分析步骤8.