SJT 10435-1993半导体电阻应变计总规范.pdf

SJ中华人民共和国电子行业标准SJ/T 10435-93半导体电阻应变计总规范General Specification for the semi-conductor resistance strain gage(可供认证用)1994-06-01实施1993-12-17 发布中华人民共和国电子工业部•发•布 中华人民共和国电子行业标准半导体电阻应变计总规范SJ/T 10435--93General Specification for the semi-conductor resistance strain gage(可供认证用）主题内容和适用范围本标推规定了半导体电阻应变计的基本技术要求，质量评定程序和试验方法。本标准适用于以半导体压阻效应为基本原理而制造的半导体电阻应变计，包括体型应变计、扩散型半桥应变计、扩敬型全桥（如硅膜片、硅梁、硅柱等)应变计（以下简称应变计）。2 总则2.1 有关文件GB 2421总则电工电子产品基本环境试验规程GB 2423.1电工电子产品基本环境试验规程试验A：寒冷GB 2423.2试验 B:干热电工电子产品基本环境试验规程GB 2423. 29试验U:引出端和整体安装件的强度电工电子产品基本环境试验规程GB 2828逐批检查计数抽样程序及抽样表GB 3100·国际单位制及其应用GB 321优先数一优先数系GB 4475敏感元件名词术语QC 001001IEC电子元器件质量评定体系：基本章程QC 001002IEC电子元器件质量评定体系：程序规则GB 4728电气周围图形符号2.2单位、符号和术语2.2.1概述单位、符号和术语应尽可能从下列标准中选取：GB 3100GB 4475GB 4728需要更多的项目时，应按上述文件的原则导出。2.2.2电阻应变计能将应变量转换成电阻变化量的敏感元件。:中华人民共和国电子工业部1993-12-17批准1994-06-01 实施 SJ/T 10435-932.2.3应变计种类采用材料、设计特征和制造方法都相同的应变计，为同种类的应变计。2.2.4应变计型号规格同-种类的应变计，通常根据尺寸或阻值范围等因素，再划分为不同的型号规格。2.2.5敏感电阻条应变计中把应变量转换成电阻变化量的部分。2.2.6半导体应变计用半导体材料制成敏感电阻条的应变计。2.2.7P型半导体应变计用P型半导体材料制成敏感电阻务的应变计。2.2.8N型半导体应变计用N型半导体材料制成敏感电阻条的应变计。2.2.9体型半导体应变计直接用半导体材料制成敏感电阻条的应变计。2.2.10扩散型半导体应变计把杂质有选择地扩散在半导体材料上制成敏感电阻条的应变计。2.2.11基底用来保持体型半导体应变计与引线的相对位置的胶膜载体。2.2.12外引线应变计中从电极上引出的细金属线。2.2.13可见损伤用肉眼能看到的机械损伤与缺陷。2.2.14电阻值在室温不，应变计在没有安装也不受任何外力干扰的情况下的电阻值。2.2.15体型电阻值偏差体型应变计的电阻值与标称电阻值之差值对标称电阻值的百分数。2.2.16半桥电阻值偏差在半桥应变计中，两个电阻值之差的绝对值对其平均值的百分数。2.2.17全桥雾点输出在不受应力的条件下，全桥通以额定工作电流或电压时的电压输出值。2.2.18击穿电压应变计隔离部分承受的耐电压强度。2.2.19漏电流应变计隔离部分通过的电流。2.2.20类别温度范围应变计设计的额定参数所允许的最低到最高的环境温度范围。2.2.21电阻温度系数在类别温度范围内，在不受应力的条件下,应变计电阻值的相对变化值与相应的温度变化值的比值。2.2.22零点温漂12／ SJ/T 10435-93在类别温度范围内，在不受应力的条件下，全桥输出电压的变化值与相应温度变化值的比值。2.2.23蠕变(有基底）对于已安装的应变计，在恒温下，在恒定应力的持续作用下，电阻值随时间的变化值。2.2.24灵敏系数应变计的电阻相对变化值与相应的应变量的变化值的比值。2..2.25灵敏系数偏差各个应变计的灵敏系数与标称灵敏系数之差，对标称灵敏系数之比的百分数。2.2.26灵敏度全桥应变计的电压输出量的变化值与相应的应变量的变化值之比值。2.2.27应变极限已安装的应变计在恒温下,在失效前所能承受的最大微应变。2.2.28疲劳寿命已安装的应变计在恒定幅值的交变应力作用下，连续工作到产生疲劳损坏时的循环次数。2.3优先值详细规范中给出的特性值，应优先从下列数值选取：2.3.1 类别温度下限类别温度：—55℃，—40℃，—25℃和10℃;上限类别温度：+40℃，+55℃，+70℃，+85℃，+100℃，+125℃，+155℃，+200℃，+250℃和+315℃。2.3.2标称阻值602,902,120Q,3500,1kQ,1.5kQ