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SJ中华人民共和国电子行业标准SJ/T 11211 1999idt IEC444 -- 5: 1995石英晶体元件参数的测量第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法Measurement of quartz crystal unit parametersPart 5: Method for the determination of equivalent electricalparameters using automatic network analyzertechniques and error correction1999 - 08 - 26 发布1999-12-01实施中华人民共和国信息产业部发布
次目前言IEC 前言(1)1 范围(1)2 引言(1)2.1 概述(2)2.2导纳测量法(4)2.3导纳分析和等效电路参数的估算-.o.o.(4)2.4引用标准-(4)3 测量程序(4)3.1概述..(4)3.2环境控制(4)3.3校准.... (5)3.4激励电平(5)3.5Co 测量(5)3.6测量频率的选择(5)3.7数据采集000(6)3.8数据修正(6)3.9导纳计算(6)3.10导纳分析和等效电路参数的计算,(6)4导纳测量法的选择(6)4.1概述(6)4.2单端口s参数反射法的优缺点(6)4.3两端口s参数传输法的优缺点(7)4.4直接传输法的优缺点(7)5校准技术(7)5.1 8 参数法(7)5.2直接传输法...(7)5.3校验..(8)6 低频测量(8)7导纳分析和等效电路参数的估算(8)7.1一般最小二乘拟合法(9)线性最小二乘拟合法7.2(10)7.3圆拟合法(12)7.4两点选代法
8 测量误差,仪器和测试架.....量业(14)8.1 测量...+(14)8.2测量条件.(14)8.3重现性…(14):8.4 测量和测试架.(14)·图..(16)专0附录 A(标准的附录)校准.(26)附录 B(提示的附录)低频测量(35)附录 C(提示的附录)文献目录(37)
前言本标准等同采用EC444-5:1995《石英晶体元件参数的测量:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法》。这样,使我国石英晶体元件参数测量的电子行业标准与IEC石英晶体元件参数的测量标准相一致,以适应此领域中国际技术交流和经济贸易往来迅速发展的需要,便于我国生产的这类产品质量水平达到国际通用要求并在国际市场流通。本标准与下述五项电子行业标准构成石英晶体元件参数测量的完整系列标准。SJ/Z9154.1-87用元型网络零相位法测量石英晶体元件参数第一部分:用元型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻基本方法(idt IEC 444-1:1986)SJ/Z9154.2~87用元型网络零相位法测量石英晶体元件参数第二部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法(idtIEC444-2:1980)SJ/Z9154.3=87用元型网络零相位法测量石英晶体元件参数第三部分:利用有并电容Co补偿的元型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法(idtIEC444-3:1986)SI/T112101999石英晶体元件参数的测量第四部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率f和负载谐振电阻R,的测量方法及其他导出参数的计算(idtIEC4445-1988)SJ/T11212--1999石英晶体元件参数的测量第六部分:激励电平相关性(DLD)的测量 (idt - IEC444 - 6 - 1995)本标准的附录 A 为标准的附录。本标准的附录B为提示的附录。本标准的附录C为提示的附录。本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准由国营北京晨星无线电器材厂负责起草。本标准主要起草人:章怡、宋佩钰、邓鹤松、边一林。
IEC前言1)IEC(国际电工委员会)是由各国家电工委员会(IEC国家委员会)组成的世界性标准化组织。IEC 的目的是促进电工电子领域中标准化问题的国际合作。为此目的,除其他活动外,IEC发布国际标准。国际标准的制定由技术委员会承担,对所涉及内容关切的任何IEC国家委员会均可参加国际标准的制定工作。与IEC有联系的任何国际、政府和非官方组织也可以参加国际标准的制定。IEC与国际标准化组织(ISO)根据两组织间协商确定的条件保持密切的合作关系。2)IEC在技术问题上的正式决议或协议是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的,对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。3)这些决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布,以推荐的形式供国际上使用,并在此意义上,为各国家委员会认可。4)为了促进国际上的统一,各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用EC标准。
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