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一种半导体安全测试柜.pdfVIP

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  • 2023-08-05 发布于四川
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一种半导体安全测试柜.pdf

    本发明公开了一种半导体安全测试柜，包括柜体及设置在柜体内的控制单元、驱动单元和烘箱，烘箱通过驱动单元与控制单元电性连接；驱动单元包括驱动板架、保险丝架和第一连接板，驱动板架包括驱动板和两个第一侧框，两个第一侧框设置在第一连接板的上端，驱动板与第一侧框滑动连接，驱动板与控制单元电性连接；保险丝架包括两个第二侧框和具有多个保险丝的保险丝板，两个第二侧框设置在第一连接板的上端，保险丝板与第二侧框滑动连接，保险丝板与驱动板一一信号连接；烘箱包括箱体和设置在箱体内的加湿器和多个老化板，老化板通过保险丝板与

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116540061 A (43)申请公布日 2023.08.04 (21)申请号 202210091757.0 (22)申请日 2022.01.26 (71)申请人 浙江杭可仪器有限公司 地址 31

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