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QFN芯片用高频测试座.pdfVIP

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  • 2023-08-06 发布于四川
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QFN芯片用高频测试座.pdf

    本实用新型提供了一种QFN芯片用高频测试座，包括至少两层相互叠加的测试主体板，及设置于测试主体板上方的导向压板，导向压板中部开设有用于容纳QFN芯片的容纳通孔腔，测试主体板中部为检测部，且所述检测部设置于所述容纳通孔腔正下方，检测部开设有检测孔槽，所述检测孔槽内设置有用于与所述QFN芯片连接的探针，所述探针呈片状设置，上、下层测试主体板上的检测孔槽错位开设，所述探针的两端分别置于不同层的检测孔槽内，QFN芯片底部的触点通过探针与所述测试主体板接触连接。本实用新型的有益效果体现在：具有高频信号的传

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210015199 U (45)授权公告日 2020.02.04 (21)申请号 20192

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