SN_T 4563-2016电工钢片（带）晶粒取向性鉴定方法 金相法.pdf

SN中华人民共和国出入境检验检疫行业标准SN/T 4563—2016电工钢片（带）晶粒取向性鉴定方法金相法Identification method for grain orientation and non-orientation of electricalsteel sheet(strip)-Metallographic method2016-08-23发布2017-03-01实施中华人民共和国发布国家质量监督检验检疫总局余层查真伪 SN/T 4563—2016前言本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。本标准由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。本标准起草单位：中华人民共和国辽宁出入境检验检疫局。本标准主要起草人：李岩、董秀文、颜怀玉、孔平、李隆旭、蒋晓光 SN/T 4563--2016电工钢片（带）晶粒取向性鉴定方法金相法1范围本标准规定了用金相法鉴定电工硅钢取向性的方法。本标准适用于冷轧无取向电工钢片（带）和冷轧取向电工钢片（带）的取向性鉴定。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T6394金属平均晶粒度测定方法SN/T4564电工钢片（带）晶粒取向性鉴定用金相试样制备方法3术语和定义下列术语和定义适用于本文件。3.1电工硅钢片（带）electricalsteelsheet（strip）供磁应用领域中使用的含碳极低的软磁性钢。通常含Si0.5%～6.5%，主要特性是，具有规定的允许铁损和磁感应以及叠装系数。3.2晶粒取向电工硅钢片（带）grainoriented electrical sheet(strip）晶粒沿轧制方向排列比沿垂直轧制方向排列有较大的增加电磁感应的性能，其晶粒呈规则取向分布的电工钢片（带）。3.3晶粒无取向电工钢片（带）non-grain oriented electrical sheet（strip）晶粒沿轧制方向排列和垂直轧制方向排列有大致相同的电磁感应性能，其晶粒呈无规则取向分布的电工钢片（带）。3.4晶粒grain晶界所包围的整个区域。即二维抛光面上所观察到的原晶界范围内的面积，或是三维物体上原晶界所包含的体积。3.5择优取向preferredorientation多晶体材料在外界条件作用下，晶粒的晶体学取向显示有沿材料某一特定方向呈现或多或少的统计不均勾排列的趋势。具有择优取向的多晶体结构称为织构。3.6preferential etch择优腐蚀在特定的化学腐蚀条件下，晶体某一（hl)面的侵蚀速度较其他晶面为快，呈现腐蚀速率增强的一种选择性腐蚀。1 SN/T 4563-—20163.7腐蚀坑etch-figure(etch-pit)因择优腐蚀出现在晶体表面的几何轮廓清晰、形状规则的凹坑。3.8晶粒取向grainorientation个晶粒的结晶方向。通常以晶粒内晶面的法向作为其取向。4方法提要在纯金属或均匀固溶体中，可以由晶体受腐蚀作用因各向异性而显示的几何轮廓，确定晶体的取向。由于特定腐蚀剂对某一《hl)面的腐蚀速度较其他晶面要快，因而在晶体表面的这些点形成了以(hkl)为界面的腐蚀坑。取向电工硅钢晶粒织构是以（110}平行于轧制表面、（001方向平行于轧制方向，即（110001；无取向电工硅钢晶粒织构为（100)0u》。利用电工硅钢（100)面系具有择优腐蚀的特点，试样经特殊腐蚀后，会出现与晶粒取向一一对应的腐蚀坑。用光学显微镜或扫描电子显微镜对腐蚀坑进行观察，通过与典型腐蚀坑图片比较，鉴别判定电工钢片（带）的晶粒取向性。5仪器设备5.1光学显微镜或扫描电子显微镜。5.2剪切设备，如冲床、剪板机等。5.3试样磨抛设备，如金相试样预磨机、抛光机等。6鉴定程序6.1取样应在交货状态的电工钢片（带）以及制成品上抽取代表性样品。样品表面应当保持平整，不得采用加热、变形等可能改变样品组织状态的取样方法。6.2试样制备6.2.1试样经冲切或剪切而成。6.2.2推荐的试样尺寸为：圆形（直径）：20mm～25mm；矩形：20mm×20mm。6.2.3试样的镶嵌、磨抛和腐蚀方法按SN/T4564。6.2.4样品的轧制面为晶粒取向和晶粒度观察分析表面。6.3昌晶粒取向观察制备好的试样在400X～1000×放大倍数下观察腐蚀坑的类型和取向分布情况，应不少于五个观察视场。6.4晶粒度测定6.4.1按照GB/T6394测定试样的晶粒度，放大倍数100×。6.4.2由于显微组织中晶粒尺寸和位置都是随机分布的，因此，应随机选取三个或三个以上代表性视场测量平均晶粒度才有代表性。6.4.3对于晶粒粗大的电工钢片（带），可在放大倍数1×的宏观条件下测定试样的平均晶粒直径