SJT 11210-1999石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算.pdf

SJ中华人民共和国电子行业标准SJ/T 11210 - 1999idt IEC444 - 4: 1998石英晶体元件参数的测量第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻Rt.的测量方法及其他导出参数的计算Measurement of quartz crystal unit parametersPart 4: Method for the measurement of the load resonancefrequency fz, load resonance resistance Rrand the calculationof other derived values of quartz crystal units, up to 30 MHz1999 -12 -01实施1999-08-26发布中华人民共和国信息产业部发布 目次前言IEC 前言(1)1 范围o.oOoDoo..(1)2 测量电路..............营+(2)测量方法3.-(3)附录A（标准的附录）关于负载电容器的使用建议00.0 前言本标准等同采用IEC444=4:1988《石英晶体元件参数的测量第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率f和负载谐振电阻R的测量方法及其他导出参数的计算。）这样，使我国石英晶体元件参数测量的电子行业标准与EC石英晶体元件参数的测量标准相一致，以适应此领域中国际技术交流和经济贸易往来迅速发展的需要，便于我国生产的这类产品质量水平达到国际通用要求并在国际市场流通。本标准与下述五项电子行业标准构成石英晶体元件参数测量的完整系列标准。SJ/Z9154.187用元型网络零相位法测量石英晶体元件参数第一部分：用元型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻基本方法。(idt IEC444 1: 1986)SJ/Z9154.2=87用元型网络零相位法测量石英晶体元件参数第二部分：测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法（idtIEC4442：1980）SJ/Z9154.3-87用元型网络零相位法测量石英晶体元件参数第三部分：利用有并电容C补偿的元型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法（idtIEC444-3:1986）SJ/T11211-1999石英晶体元件参数的测量第五部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法（idt IEC444=5-1995）SJ/T11212=1999石英晶体元件参数的测量第六部分：激励电平相关性（DLD）的测量 (idt IEC444 = 6 - 1995)本标准的附录A为标准的附录。本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准由国营北京展星无线电器材厂负贵起草。本标准主要起草人：章怡、宋佩钰、邓鹤松、边一林。 IEC前言1）IEC（国际电工委员会）是由各国家电工委员会（IEC国家委员会）组成的世界性标准化组织。JEC的目的是促进电工电子领域中标准化问题的国际合作。为此目的，除其他活动外，IEC发布国际标准。国际标准的制定由技术委员会承担，对所涉及内容关切的任何IEC国家委员会均可参加国际标准的制定工作。与IEC有联系的任何国际、政府和非官方组织也可以参加国际标准的制定。IEC与国际标准化组织（ISO）根据两组织间协商确定的条件保持密切的合作关系。2）IEC在技术问题上的正式决议或协议是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的致意见。3）这些决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用，并在此意义上，为各国家委员会认可。4）为了促进国际上的统一，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异均应在国家或地区标准中指明。国际标准EC444-4是由IEC第49频率控制和选择用压电与介电器件技术委员会制定的。本标准构成石英晶体元件参数的测量系列标准的第4部分。EC444=1构成第一部分：用元型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法（第二版，1986)。IEC4442构成第二部分：测量石英晶体元件动态电路的相位偏置法（第一版，1980)。IEC444-3构成第三部分：利用有并电容C补偿的元型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法（第一版，1986）。本标准文本以下列文件为依据：二月法规则表决报告表决报告六月法规则49 (CO) 17849(CO)183,183A49 (CO) 15649 (CO)175表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。本标准引用了下列IEC标准：122-1（1976）：频率控制和选择用石英晶体元件第部分：标准值和试验