SJT 10415-1993晶体管热敏参数快速筛选试验方法.pdf

L 40S.中华人民共和国电子行业标准SJ/T 10415—93晶体管热敏参数快速筛选试验方法Rapid screening test methods forthermal sensitive parameter of transistor1994-06-01实施1993-12-17发布中华人民共和国电子工业部发布 中华人民共和国电子行业标准晶体管热敏参数快速筛选试验方法SJ/T 10415-93Rapid screening test methods forthermel sensitive parameter of transistor1 主题内容与适用范围本标准规定了晶体管热敏参数快速筛选试验方法。适用于：1.1剔除易产生早期失效的晶体管，改善产品批的质量和可靠性。1.2测试被试管承受一定脉冲功率前后的热敏参数Icro（或Ico）Vnr 和hFE等值，以其变化量或变化率预测被试管的热稳定性。1.3模拟被试管实际使用时可能出现的浪电压、浪涌电流等条件施加应力，以考核被试管承受冲击的能力。1.4估计被试管热阻大小和范围。2试验设备本试验所需设备应具有以下功能：2.1能按规定对被试管施加一个电压、电流、脉宽可调的功率脉冲。2.2在施加功率脉冲的前后，均能测试被试管的IcFo（或Icrx）、V和hFE等热敏参数；热敏参数的测试条件应能预先设定；施加功率脉冲结束至对热敏参数第二次采样的时间间隔和第二次采样时间应足够短，以尽可能减小由于结温下降影响热敏参数的测试结果，并具有良好的重复性。2.3应具有足够的热敏参数测试量程和精度等。2.4根据被试管设定的失效判据.具有失效报警、自动数据处理并显示和打印等功能。2.5当被试管由于穿通、施加功率脉冲发生二次击穿或热击穿时应具有自保护能力。3 试验步骤3.1确定施加条件。例如环境温度，功率脉冲的电压、电流及持续时间，热敏参数的测试条件等。 JhFE1一hr2l . 100% ;其中3.2确定失效判据。失效判据参量一般为IcEO2（Icro）、△Vre 和一hFEcE(2、hEr2为加功率脉冲后的.IcEO值.hrE值，hFE为加功率脉冲前hFE.值。3.3插人被试管，启动试验设备。中华人民共和国电子工业部1993-1217批准1994-06-01实施 SJ/T 10415-933.4按顺序进行IcEO:（或IcO1、VrE1、hFE1 测试，施加功率脉冲后立即进行IcEO2（或 IcnO2）、VrE2、hFE2 测试,其中 IcEU:、Vnr1、hrE:为加功率脉冲前的 IcEO、VBE、hFE 值，VnEz 为加功率脉冲后Vnr值。3.5进行数据处理和打印。4规定条件4.1环境温度、湿度和管壳温度(若不同于环境温度时)。4.2_功率脉冲的电压、电流及脉冲持续时间。4.3VBe 的测试电流 I，hre 的测试电流Ic和电压VcE、IcEo（或Icno）的测试反偏电压 VcE(或Vc)。1hej-hrEz2l ,100% :4.4有关失效判据如 IcEC2（或 cr02）、△Vne及 hrs 的相对变化率hFE15　注意事项5.1功率脉冲的前沿、后沿过渡时间不对加温过程产生不良影响。5.2功率脉结束瞬间至热敏参数第二次采样结束瞬间之间的时间问隔不对测试结果产生不良影响。5.3功率脉冲的电压值不得超过被试管规定的正偏直流安全工作区所确定的减功率点的电压值。功率脉冲的电流不得超过被试管集电极最大脉冲电流值。施加功率脉冲后在最高结温点的温度不得超过被试管的最高结湿额定值，以免引入新的失效机理。5.4试验初始时刻（t二t。），除另有规定外，被试管的结温等于环境温度。VCE5.5集电极恒流源的内阻应远大fr附加说明：本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标推主要起草人：鲁度、蔡仁明、叶奇放。 E6S10 /TS中华人民共和国电子行业标准品体管热敏参数快速筛选试验方法SJ/T 10415--93微电子工业部标准化研究所出版印刷河北省清河县印剧厂电子工业部标准化研究所发行版权专用 不停翻印曼开本：787×10921/16印张：始字数：3千字1994年8月第一版 1994年8月第一次印刷