多晶硅的生产工艺图及车间工艺培训.docVIP

多晶硅的生产工艺图及车间工艺培训.doc

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还原氢化工序工艺讲义 第一节 工序划分及主要设备 一、三氯氢硅还原的工序划分 单元号 工序名称 T1100/T1101 三氯氢硅(TCS)蒸发 T1200/T1201 四氯化硅(STC)蒸发 T100/T101 还原 T200/T201 氢化 T300 硅芯拉制 T400 硅芯腐蚀 T500 破碎、分级 T600 超纯水制取 T700 实验室(分析检测中心) T800/801 钟罩清洗 T900 冷却水循环系统 T1000 HF洗涤 二、主要原辅材料及质量要求 物质 纯度 原料 三氯氢硅 TCS≥99%(B≤0.1ppb;P≤0.1ppb) 四氯化硅 STC≥98% 氢气 H2≥99.999% 硅芯 Si≥99.999%;电阻率≥50Ω·cm(暂定);Φ5mm ;长2m 石墨电极 高纯 辅料 硝酸 分析纯 氢氟酸 优纯级或分析纯 洗涤剂 氢氧化钠 分析纯或化学纯 酸洗剂 氨基磺酸 化学纯 超纯水 电阻率>18M·Ω 三、主要设备 设备 个数 位号 三氯氢硅(TCS)蒸发器 4 T1100AB001/002 T1201AB001/002 四氯化硅(STC)蒸发器 4 T1200AB001/002 T1201AB001/002 还原炉及氢化炉的静态混合器 2 AM100 还原炉 18 T100/T101AC001-009 氢化炉 9 T200AC001-005 T201AC001-004 硅芯拉制炉 6 T300AC001-006 区熔炉 1 T700AC001 冷却水及冷却去离子水缓冲罐 4 T900/T901AB001-002 全自动硅块腐蚀清洗机 1 T400 HF洗涤塔 1 T1000AK001A/B T1000AK002A/B 第二节 三氯氢硅氢还原工艺 一、还原工艺描述 图1 三氯氢硅氢还原工艺流程简图 经提纯的三氯氢硅原料,按还原工艺条件的要求,经管道连续加入蒸发器中。向蒸发器夹套通入蒸汽使三氯氢硅鼓泡蒸发并达到10bar,三氯氢硅的汽体和一路一定压力的高纯氢气(包括干法分离工序返回的循环氢气)在混合器AM100中以1:3的比例混合,经三层套管换热器加热后经进气管喷头喷入还原炉内。另一路(侧路氢)用于还原炉视镜冷却。 在1080℃~1100℃的反应温度下,在还原炉内通电的炽热硅芯硅棒的表面,三氯氢硅发生氢还原反应,生成硅沉积下来,使硅芯硅棒的直径逐渐变大。经过约150小时反应沉积过程,制得直径为120~150mm,长2000mm的多晶硅棒,即为高纯多晶硅产品。 还原炉炉筒夹套通入热水,以移除炉内炽热硅芯向炉筒内壁辐射的热量,维持炉筒内壁的温度。还原炉内的石墨电极用去离子冷却水冷却,进水口取样测量去离子水的电导率及纯度,以防对还原炉电极造成损害。 炉内的反应压力为6bar,化学反应方程式为: (主反应) 转化率仅为10%~15% 同时还发生一系列副反应,例如SiHCl3和HCl反应产四氯化硅和氢气: (副反应) 转化率为30%~35% 和SiCl4的还原反应 (副反应) 以及杂质的还原反应: 及 氢还原反应同时生成二氯二氢硅、四氯化硅、氯化氢和氢气,与未反应的三氯氢硅和氢气一起送出还原炉,出口设置取样点检测尾气各成分含量,了解还原炉的工作是否正常,尾气经循环冷却水冷却后,直接送往还原尾气干法分离工序。 二、还原炉尾气组成 还原炉尾气温度200℃,压力为6bar,各物质成分如下: 还原炉尾气成分 含量 TCS ≈50% STC ≈40% H2 5~7% DCS 2~3% HCl 0~1% 第三节 三氯氢硅氢还原的影响因素 一、氢还原反应及沉积温度 三氯氢硅氢还原反应都是吸热反应,因此升高温度使平衡向吸热一方移动,有利于硅的沉积,也会使硅的结晶性能好,而且表面具有光亮的灰色金属光泽。但实际上反应温度不能太高,因为: (一)硅和其它半导体材料一样,自气相往固态载体上沉积时,都有一个最高温度,当反应超过这个温度,随着温度的升高,沉积速度反而下降。 (二)温度太高,沉积的硅化学活性增强,受到设备材质沾污的可能性增强。 (三)对硅极为有害的杂质B、P化合物,随着温度增高,其还原量也加大,这将使硅的沾污增加。 (四)过高的温度,会发生硅的逆腐蚀反应。 因此,在生产中采用1080℃~1100℃左右进行三氯氢硅氢还原反应。 二、反应混合气配比 所谓反应混合气配比是指还原剂氢气和原料三氯氢硅的摩尔比。 在三氯氢硅氢还原过程中,用化学当量计算的配比的氢气进行还原时,产品呈非晶体型褐色粉末状析出,而且实收率很低。这是由于氢气不足,发生其它副反应的结果。因此,氢气必须比化学当量值过量,有利于提高实收率,而且产品结晶质量也较好。 但是, H2和SiHCl3的摩尔配比也不能太大,因为: (一)配比太大,H2得不到

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