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还原氢化工序工艺讲义
第一节 工序划分及主要设备
一、三氯氢硅还原的工序划分
单元号
工序名称
T1100/T1101
三氯氢硅(TCS)蒸发
T1200/T1201
四氯化硅(STC)蒸发
T100/T101
还原
T200/T201
氢化
T300
硅芯拉制
T400
硅芯腐蚀
T500
破碎、分级
T600
超纯水制取
T700
实验室(分析检测中心)
T800/801
钟罩清洗
T900
冷却水循环系统
T1000
HF洗涤
二、主要原辅材料及质量要求
物质
纯度
原料
三氯氢硅
TCS≥99%(B≤0.1ppb;P≤0.1ppb)
四氯化硅
STC≥98%
氢气
H2≥99.999%
硅芯
Si≥99.999%;电阻率≥50Ω·cm(暂定);Φ5mm ;长2m
石墨电极
高纯
辅料
硝酸
分析纯
氢氟酸
优纯级或分析纯
洗涤剂
氢氧化钠
分析纯或化学纯
酸洗剂
氨基磺酸
化学纯
超纯水
电阻率>18M·Ω
三、主要设备
设备
个数
位号
三氯氢硅(TCS)蒸发器
4
T1100AB001/002
T1201AB001/002
四氯化硅(STC)蒸发器
4
T1200AB001/002
T1201AB001/002
还原炉及氢化炉的静态混合器
2
AM100
还原炉
18
T100/T101AC001-009
氢化炉
9
T200AC001-005
T201AC001-004
硅芯拉制炉
6
T300AC001-006
区熔炉
1
T700AC001
冷却水及冷却去离子水缓冲罐
4
T900/T901AB001-002
全自动硅块腐蚀清洗机
1
T400
HF洗涤塔
1
T1000AK001A/B
T1000AK002A/B
第二节 三氯氢硅氢还原工艺
一、还原工艺描述
图1 三氯氢硅氢还原工艺流程简图
经提纯的三氯氢硅原料,按还原工艺条件的要求,经管道连续加入蒸发器中。向蒸发器夹套通入蒸汽使三氯氢硅鼓泡蒸发并达到10bar,三氯氢硅的汽体和一路一定压力的高纯氢气(包括干法分离工序返回的循环氢气)在混合器AM100中以1:3的比例混合,经三层套管换热器加热后经进气管喷头喷入还原炉内。另一路(侧路氢)用于还原炉视镜冷却。
在1080℃~1100℃的反应温度下,在还原炉内通电的炽热硅芯硅棒的表面,三氯氢硅发生氢还原反应,生成硅沉积下来,使硅芯硅棒的直径逐渐变大。经过约150小时反应沉积过程,制得直径为120~150mm,长2000mm的多晶硅棒,即为高纯多晶硅产品。
还原炉炉筒夹套通入热水,以移除炉内炽热硅芯向炉筒内壁辐射的热量,维持炉筒内壁的温度。还原炉内的石墨电极用去离子冷却水冷却,进水口取样测量去离子水的电导率及纯度,以防对还原炉电极造成损害。
炉内的反应压力为6bar,化学反应方程式为:
(主反应)
转化率仅为10%~15%
同时还发生一系列副反应,例如SiHCl3和HCl反应产四氯化硅和氢气:
(副反应)
转化率为30%~35%
和SiCl4的还原反应
(副反应)
以及杂质的还原反应:
及
氢还原反应同时生成二氯二氢硅、四氯化硅、氯化氢和氢气,与未反应的三氯氢硅和氢气一起送出还原炉,出口设置取样点检测尾气各成分含量,了解还原炉的工作是否正常,尾气经循环冷却水冷却后,直接送往还原尾气干法分离工序。
二、还原炉尾气组成
还原炉尾气温度200℃,压力为6bar,各物质成分如下:
还原炉尾气成分
含量
TCS
≈50%
STC
≈40%
H2
5~7%
DCS
2~3%
HCl
0~1%
第三节 三氯氢硅氢还原的影响因素
一、氢还原反应及沉积温度
三氯氢硅氢还原反应都是吸热反应,因此升高温度使平衡向吸热一方移动,有利于硅的沉积,也会使硅的结晶性能好,而且表面具有光亮的灰色金属光泽。但实际上反应温度不能太高,因为:
(一)硅和其它半导体材料一样,自气相往固态载体上沉积时,都有一个最高温度,当反应超过这个温度,随着温度的升高,沉积速度反而下降。
(二)温度太高,沉积的硅化学活性增强,受到设备材质沾污的可能性增强。
(三)对硅极为有害的杂质B、P化合物,随着温度增高,其还原量也加大,这将使硅的沾污增加。
(四)过高的温度,会发生硅的逆腐蚀反应。
因此,在生产中采用1080℃~1100℃左右进行三氯氢硅氢还原反应。
二、反应混合气配比
所谓反应混合气配比是指还原剂氢气和原料三氯氢硅的摩尔比。
在三氯氢硅氢还原过程中,用化学当量计算的配比的氢气进行还原时,产品呈非晶体型褐色粉末状析出,而且实收率很低。这是由于氢气不足,发生其它副反应的结果。因此,氢气必须比化学当量值过量,有利于提高实收率,而且产品结晶质量也较好。
但是, H2和SiHCl3的摩尔配比也不能太大,因为:
(一)配比太大,H2得不到
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