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一种基于频域特征判断多层结构底层脱粘的超声成像方法.pdfVIP

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  • 2023-08-12 发布于四川
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一种基于频域特征判断多层结构底层脱粘的超声成像方法.pdf

    本发明公开了一种基于频域特征判断多层结构底层脱粘的超声成像方法，该方法包括：基于预先设定的水平速度，移动纵波超声换能器至预定位置，对待检测多层结构体的扫查区域进行高压激励和回波采集；并同时记录每个扫查区域的物理位置；待对每个预定位置均完成激励采集后，根据每个预定位置的回波采集信号构建矩阵，采用频域数据互相关的方式，通过对比多层结构体不同界面的相位变化在频域的影响，形成图像显示，从而判断多层结构底层是否存在脱粘现象。采用本发明的方法，能更有效的显示多层结构底面的粘接情况，避免上层材料结构和声速变化

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116577414 A (43)申请公布日 2023.08.11 (21)申请号 202310565748.5 (22)申请日 2023.05.19 (71)申请人 中国科学院声学研究所 地址 10

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