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本发明公开了一种光设备老化测试监控方法及系统，包括如下步骤：S1：光采集设备采集待测试设备的外部参数；S2：管理系统接收待测试设备的内部参数以及采集到的外部参数；S3：进行稳定性测试；S4：管理系统根据采集到的参数变化绘制每台待测试设备的曲线；S5：进行老化测试，判断待测试设备是否合格；本发明通过采用内部数据和外部数据双重比对，既通过通讯手段获取内部参数，又通过外部设备传感器获取实际参数，达到对比的目的，可以更准确的发现设备的问题，提高老化测试的准确性。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116599578 A
(43)申请公布日 2023.08.15
(21)申请号 202310479354.8
(22)申请日 2023.04.28
(71)申请人 杭州通兴电子有限公司
地址 31
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