一种半导体测试设备.pdfVIP

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  • 2023-08-16 发布于四川
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本实用新型涉及半导体技术领域,且公开了一种半导体测试设备,包括测试仪本体和底板,测试仪本体与底板连接,底板外侧设置有传动辊和电机,电机输出轴与传动辊连接,传动辊外侧套设有传送带,底板外侧设置有伸缩件,伸缩件的伸缩端安装有连接组件,连接组件侧部连接有第一导线和第二导线,第一导线与第二导线端部与测试仪本体连接,传送带外侧设置有二极管本体,二极管本体与连接组件接触;电机带动传动辊旋转,使得传送带带动二极管本体移动至连接组件下方,伸缩件带动连接组件下压在二极管本体的两极上,通过第一导线和第二导线的设置,

(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 219533316 U (45)授权公告日 2023.08.15 (21)申请号 202320141439.0 (22)申请日 2023.02.07 (73)专利权人 上海晶邝半导体科技有限公司 地址

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