手机天线测试.docxVIP

浅谈实践中的手机天线测试 跟着挪动通讯的飞快发展和应用，中国的手机行业也不停发展壮大，自然中国的手机用户也在迅猛增添。而手机的射频器件中，手机天线是无源器件，手机天线作为手机上边独一的一个“量身定做”的器件，它的特别性和重要性必定要求其研发过程对天线性能的测试要求特别严格，这样才能保证手机的正常用。 此刻就简单的介绍一下手机天线的研发过程中的几种常有的手机天线测试方法： 1、微波暗室（Anechonicchamber） 波暗室又叫无反射室、吸波暗室简称暗室。微波暗室由电磁障蔽室、滤波与隔绝、接地装置、通风波导、室内配电系统、监控系统、吸波资料等部分构成。 它是以吸波资料作为衬面的障蔽房间，它能够汲取射到六个壁上的大多数电磁能量较好的模拟空间自由条件。暗室是天线设计企业都需要建筑的测试设施，因为关于手机天线的测试比较精准并且比较系统，其测试指标能够用来权衡一个手机天线的性能的好与坏。主假如天线企业使用，但其造价昂贵。 2、TEMCELL测试 用TEMCELL测试天线有源指标，因为微波暗室和天线测试系统造价比较昂贵，一般要百万以上，一般的手机设计和研发企业没有这类设施，而用 TEMCELL（也较三角锥）来取代测试。和微波暗室的测试目的同样，TEMCELL 也是一个模拟理想空间的天线测试环境，金属箱能够供给足够的障蔽功能来除去外面扰乱对天线的影响，而内部的吸波资料也能汲取入射波，减小反射波。 TEMCELL不可以对天线进行无源测试，只好对有源指标进行测试。因为空间限制，TEMCELL的吸波资料比较薄，而关于劈状吸波资料，是经过劈尖间的多次 反射增添对入射波进行汲取，所以微波暗室里的吸波资料都比较厚，而TEM CELL的吸波资料都不购厚，所以对入射波的汲取都不是很充分，所以会致使测试的结果不精准。 1/3 此外，TEMCELL的高度也不够，这也是TEMCELL不可以进行定量测试的一个原由。依据天线辐射的远场测试剖析，关于EGSM/DCS频段的手机天线，被测手机与天线的距离起码大于1米；所以，我们能够看几乎全部的2D暗室都是远大于这个距离。而TEMCELL比这个距离小一些，所以这也是TEMCELL有关于微波暗室来讲丈量禁止的一个原由。 所以，TEMCELL只好对天线做定性的剖析而不可以做定量的剖析。在实验室能够定性剖析几种样机的差别，比较其性能的好坏，但不可以作为正确的标准值 来权衡天线的性能，只好经过与其余的“金鸡”（Goldensample)对照，大概来判断手机天线的性能。TEMCELL一般只找最正确方值，使测试结果敌手机摆放的地点比较敏感。此外，还有一种测试工具较障蔽箱，有的设计企业用来敌手机天 线进行有源测试，这类方法很不行行。一方面因为测试距离太近，另一方面因为没有足够的吸波资料，外面扰乱对天线的测试影响比较大，这样致使测试结果对地点比较敏感，略微改变一下地点测试结果就有比较大的改变，所以这类测试方法敌手机天线的性能没有多少的参照意义。 3、用耦合测试板测试天线性能 在生产过程中为了保证产品的生产质量，常常要进行天线的耦合测试。要用到的测试装置是： 耦合测试夹具与综合测试仪相连，手机固定在夹具上。在生产先期依据几个样机的测试结果，给出一个合理的耦合赔偿值，确立一个功率标准，而后敌手机的最大功率进行测试，高于这个功率标准表示产品切合生产要求，低于这个要求说明日线与有关器件有问题。经过天线耦合测试能够发现以下问题： 1）天线般配电路虚焊和缺件等。 2）天线四周电子/构造件有问题。 3）天线没有装置好。 4）天线自己质量有问题。 需要指出的是天线耦合测试是产品的一致性测试，其实不是对产品性能进行测试。前面所提到的天线指标都是针对远场进行的测试，天线耦合测试是针对 2/3 近场进行的测试，被测手机的天线与耦合夹具天线相距特别近。近场是天线自己客观存在的，一但整个手机的构造和天线确立，近场也就能够确立，所以能够依据测试结果能否在必定范围内，判断天线部分能否有问题。天线耦合测试只针对天线的最大功率进行测试，不进行其余项目的测试，即便测试了，也没存心义。 用天线耦合测试来认证天线的性能，依据不一样手机的测试结果来进行性能判断，这是特别错误的。当前，我仍是遇到好多国内的手机企业，是经过耦合测试来判断天线的性能，进而使得天线企业不得不经过将谐振频次调偏，来经过耦合测试的标准。 手机天线的设计来讲，天线的测试是一个特别重要的环节，没有正确的设计，天线设计的好与坏也有没有什么来权衡了，所以选择一个很好测试系统敌手机天线的开发也是特别重要的。（参照《手机射频》） 3/3