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本发明提出了一种低真空痕量气体的快速无损采样分析装置和方法,该装置包括真空获得模块、采样模块、气体分析模块和控制模块。其中真空获得模块包括二级真空腔室、真空泵组和隔断阀。采样模块包括工艺腔室、连接法兰、采样细管、截止阀、微孔法兰、二级真空腔室和电离单元的微孔。气体分析模块包括总压监测器、电离单元、质量分析器和探测器等。本发明装置解决了低真空气体采样分析过程中出现的质量歧视效应,真正做到了无损采样,测试结果准确;半封闭式电离单元可保持更高压力,提高了采样量;降低了采样时二级真空腔室的本底,降低了采
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 111665103 A
(43)申请公布日
2020.09.15
(21)申请号 20201
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