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- 2023-08-23 发布于四川
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本发明属于半导体薄膜技术领域,涉及一种制备铪锆氧基单晶薄膜的方法及制备的铪锆氧基单晶薄膜。所述制备铪锆氧基单晶薄膜的方法,包括以下步骤:采用Zr掺杂氧化铪溅射靶材,在单晶基片上通过磁控溅射制备得到铪锆氧基单晶薄膜。本发明采用磁控溅射能够获得高质量的HZO单晶薄膜。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116623282 A
(43)申请公布日 2023.08.22
(21)申请号 202310420997.5
(22)申请日 2023.04.19
(71)申请人 中国科学院宁波材
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