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本申请涉及电力电子测试领域,公开了一种IGBT模块驱动板VCE退饱和测试方法,包括以下步骤:步骤一、将IGBTB半桥模块的上桥短路;步骤二、通过信号发生器输出脉冲,并经过IGBT驱动板的控制电路,对脉冲信号处理,实现控制下桥导通;步骤三、下桥导通和上桥的短路线形成IGBTB短路退出饱和区,Vce快速上升直至母线电压,Dm马上截止,电流源则向DESAT电容Ca充电,Ca的电位线性上升,达到VDESAT_TH时比较器翻转。通过先将IGBTB半桥模块的上桥短路,再利用控制电路对脉冲信号进行处理,实现瞬
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116626466 A
(43)申请公布日 2023.08.22
(21)申请号 202310598186.4
(22)申请日 2023.05.25
(71)申请人 深圳硅山技术有限公司
地址 51
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