半导体分立器件测试原理和方法.pptVIP

由于通常测试大电流器件时用正弦波，此时R2可忽略，事业部实际也是按LC振荡电路。 交流电经D1，R1向C充电，充至所需值，触发装置B输出一脉冲触发DUT，电容C经L放电，输出dI/dt波形。电容、电感可按下式计算： ? 被试元件做di/dt试验有反压比无反压能承受的临界di/dt要低，标准没明确规定，应结合器件实际运行工况确定试验时有无反压较为科学。 * * 第三十页，共四十九页，2022年，8月28日 热循环负载试验（热疲劳测试） 本测试是确认某些型式晶闸管承受结温变化能力的耐久性（寿命）测试。 * * 第三十一页，共四十九页，2022年，8月28日 R1，R2……R6为阻值可调的不锈钢水冷电阻，被试元件DUT1……DUT6用水冷散热器。 当触点J1……J6闭合时，变压器B1，B2，B3原边接上三相380 V电源，∴付边a0，b0，c0顺时针相位差120°轮流得电，当A0为正时DUT1导通，当a0为负时DUT2导通，调R1，R2使各回路电流基本一致。检测壳温上升到某一温度时，断开J1……J6，变压器B1……B3原边断电，付边电流为零。元件通水冷却，至壳温降到某一温度时，J1……J6闭合，元件冷却水切断，元件开始通电升温。升温冷却一次算一次循环，循环次数由循环计数器自动记录。 * * 第三十二页，共四十九页，2022年，8月28日 * * 第三十三页，共四十九页，20