基于关注区域的缺陷检测.pdfVIP

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  • 2023-08-23 发布于四川
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提供了辅助半导体样品上的缺陷检测的系统和方法。所述方法包括:获得提供管芯上的要检查的多个关注区域(CA)的信息的第一图;创建包围多个CA的多个边界矩形(BR);以及将多个BR压缩为压缩矩形集合以满足预定义的检查容量,同时尝试最小化由压缩矩形集合包围的非CA区域,从而产生提供压缩矩形集合的信息的第二图。所述压缩包括构造表示多个BR和压缩矩形的R树结构,并且基于预定义的检查容量从R树结构中选择节点集合,所述节点集合表示压缩矩形集合。所述第二图可用于过滤指示管芯上的缺陷候选分布的缺陷图。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116631886 A (43)申请公布日 2023.08.22 (21)申请号 202310032591.X G06T 7/00 (2017.01)

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